IEC 62374(2007)
Полупроводниковые приборы. Испытание на пробой диэлектрика в зависимости от времени (TDDB) для управляющих диэлектрических пленок
Статус: Действует Дата введения в действие: 12.04.2007
Обозначение | IEC 62374(2007) |
---|---|
Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Испытание на пробой диэлектрика в зависимости от времени (TDDB) для управляющих диэлектрических пленок |
Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films |
МКС | 31.080 |
Вид стандарта | ST |
Дата опубликования | 12.04.2007 |
Язык оригинала | английский;французский |
Количество страниц оригинала | 46 |
ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
Номер издания | 1.0 |
Статус | Действует |
Код цены | F |