IEC 62373(2006)
Транзисторы со структурой металл-оксид, полупроводниковые, полевые. Испытание стабильности при отклонении температуры
Статус: Действует Дата введения в действие: 27.07.2006
Обозначение | IEC 62373(2006) |
---|---|
Заглавие на русском языке | Транзисторы со структурой металл-оксид, полупроводниковые, полевые. Испытание стабильности при отклонении температуры |
Заглавие на английском языке | Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) |
МКС | 31.080 |
Вид стандарта | ST |
Дата опубликования | 27.07.2006 |
Язык оригинала | английский;французский |
Количество страниц оригинала | 30 |
ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
Номер издания | 1.0 |
Статус | Действует |
Код цены | D |