IEC 62417(2010)
Полупроводниковые приборы. Испытания с подвижным ионом для полупроводниковых транзисторов с полевым эффектом металл-оксид
Статус: Действует Дата введения в действие: 22.04.2010
Обозначение | IEC 62417(2010) |
---|---|
Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Испытания с подвижным ионом для полупроводниковых транзисторов с полевым эффектом металл-оксид |
Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs) |
МКС | 31.080 |
Вид стандарта | ST |
Дата опубликования | 22.04.2010 |
Язык оригинала | английский;французский |
Количество страниц оригинала | 20 |
ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
Номер издания | 1.0 |
Статус | Действует |
Код цены | B |