IEC 62374-1(2010)
Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на пробой диэлектрика в зависимости от времени (TDDB) для интерметаллических слоев
Статус: Действует Дата введения в действие: 29.09.2010
Обозначение | IEC 62374-1(2010) |
---|---|
Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на пробой диэлектрика в зависимости от времени (TDDB) для интерметаллических слоев |
Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers |
МКС | 31.080 |
Вид стандарта | ST |
Дата опубликования | 29.09.2010 |
Язык оригинала | английский;французский |
Количество страниц оригинала | 36 |
ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
Номер издания | 1.0 |
Статус | Действует |
Код цены | D |