OEVE/OENORM EN 62374-1:2011
Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на пробой диэлектрика в зависимости от времени (TDDB) для интерметаллических слоев
Статус: Действует Дата введения в действие:
| Обозначение | OEVE/OENORM EN 62374-1:2011 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на пробой диэлектрика в зависимости от времени (TDDB) для интерметаллических слоев |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers (IEC 62374-1:2010) (german version) |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | OEVE/OENORM EN 62374-1 (2008-12-15) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 19 |
| Статус | Действует |