IEC 62373-1(2020)
Приборы полупроводниковые. Испытание на стабильность при отклонении температуры полевых транзисторов со структурой металл-оксид-полупроводник (MOSFET). Часть 1. Ускоренное BTI испытание для MOSFET
Статус: Действует Дата введения в действие: 15.07.2020
Обозначение | IEC 62373-1(2020) |
---|---|
Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Испытание на стабильность при отклонении температуры полевых транзисторов со структурой металл-оксид-полупроводник (MOSFET). Часть 1. Ускоренное BTI испытание для MOSFET |
Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) - Part 1: Fast BTI test for MOSFET |
МКС | 31.080.30 |
Вид стандарта | ST |
Дата опубликования | 15.07.2020 |
Язык оригинала | английский;французский |
Количество страниц оригинала | 44 |
ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
Номер издания | 1.0 |
Статус | Действует |
Код цены | F |