BS ISO 17331:2004+A1:2010
Статус: Дата введения в действие:
Обозначение | BS ISO 17331:2004+A1:2010 |
---|---|
Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis. Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy |
Количество страниц оригинала | 28 |