XP ISO/TS 24597-2011
Микролучевой анализ. Растровая электронная микроскопия. Методы оценки четкости изображения
Статус: Дата введения в действие:
Обозначение | XP ISO/TS 24597-2011 |
---|---|
Заглавие на русском языке | Микролучевой анализ. Растровая электронная микроскопия. Методы оценки четкости изображения |
Заглавие на английском языке | Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Methods of evaluating image sharpness |
МКС | 37.020 |