ISO 19830:2015
Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчету результатов подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
Статус: Действует Дата введения в действие: 05.11.2015
| Обозначение | ISO 19830:2015 |
|---|---|
| Статус | Действует |
| Вид стандарта | ST |
| Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчету результатов подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии |
| Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis -- Electron spectroscopies -- Minimum reporting requirements for peak fitting in X-ray photoelectron spectroscopy |
| Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 7 |
| Язык оригинала | английский |
| Номер издания | 1 |
| Дата опубликования | 05.11.2015 |
| Количество страниц оригинала | 30 |
| Код цены | D |