IEC 62047-35(2019)
Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 35. Метод определения электрических характеристик при деформации изгиба гибких электромеханических устройств
Статус: Действует Дата введения в действие: 22.11.2019
Обозначение | IEC 62047-35(2019) |
---|---|
Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 35. Метод определения электрических характеристик при деформации изгиба гибких электромеханических устройств |
Заглавие на английском языке | Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices - Part 35: Test method of electrical characteristics under bending deformation for flexible electro-mechanical devices |
МКС | 31.080.99 |
Вид стандарта | ST |
Дата опубликования | 22.11.2019 |
Язык оригинала | английский;французский |
Количество страниц оригинала | 41 |
ТК – разработчик стандарта | TC 47/SC 47F |
Номер издания | 1.0 |
Статус | Действует |
Код цены | F |