Каталог МЭК — публикации Международной электротехнической комиссии - IEC
найдено документов: 22798 страниц: 1140
IEC/PAS 62005-9-2(2003)
Волоконно-оптические соединительные устройства и пассивные компоненты. Надежность волоконно-оптических соединительных устройств и пассивных оптических компонентов. Часть 9-2. Оценка надежности волоконно-оптических соединителейFibre optic interconnecting devices and passive components - Reliability of fibre optic interconnecting devices and passive optical components - Part 9-2: Reliability qualification for fibre optic connectors
Количество страниц: 14 Статус: Заменен
IEC/PAS 62030(2004)
Передача цифровых данных измерений и контроля. Полевая шина для промышленных систем управления. Раздел 1. Спецификация V1.1a протокола применения MODBUS®. Раздел 2. Проводная версия 1.0 спецификации протокола общественной подписки в реальном масштабе времениDigital data communications for measurement and control - Fieldbus for use in industrial control systems - Section 1: MODBUS® Application Protocol Specification V1.1a - Section 2: Real-Time Publish-Subscribe (RTPS) Wire Protocol Specification Version 1.0
Количество страниц: 164 Статус: Заменен
IEC/PAS 62129(2004)
Калибровка оптических спектральных анализаторовCalibration of optical spectrum analyzers
Количество страниц: 56 Статус: Заменен
IEC/PAS 62137-3(2008)
Технология монтажа электроники. Руководство по выбору методов испытания паяных соединений на долговечность и воздействие окружающей средыElectronics assembly technology - Selection guidance of environmental and endurance test methods for solder joints
Количество страниц: 46 Статус: Заменен
IEC/PAS 62158(2000)
Квалификационный профиль изготовителей печатных платPrinted board manufacturers' qualification profile (MQP)
Количество страниц: 46 Статус: Отменен
IEC/PAS 62159(2000)
Профиль квалификации изготовителей электронных узловElectronic Assembly Manufacturers' Qualification Profile (AQP)
Количество страниц: Статус: Отменен
IEC/PAS 62160(2000)
Профиль квалификации ламинаторовLaminator Qualification Profile
Количество страниц: Статус: Отменен
IEC/PAS 62162(2000)
Метод испытания на определение порогов устойчивости к электростатическому разряду для компонентов микроэлектроники с помощью модели зарядного устройства с индуцированным полемField-induced charged-devise model test method for electrostatic discharge withstand thresholds of microelectronic components
Количество страниц: 7 Статус: Действует
найдено документов: 22798 страниц: 1140