Каталог МЭК — публикации Международной электротехнической комиссии - IEC
найдено документов: 21833 страниц: 1092
IEC/PAS 62173(2000)
Метод испытания на определение способности к пайкеSolderability test method
Количество страниц: 19 Статус: Заменен
IEC/PAS 62175(2000)
Метод испытания прочности маркировкиMarking permanency test method
Количество страниц: 7 Статус: Заменен
IEC/PAS 62177(2000)
Сверхускоренные испытания на воздействие температуры и влажностиHighly-accelerated temperature and humidity stress test (HAST)
Количество страниц: 10 Статус: Заменен
IEC/PAS 62178(2000)
Температурные циклические испытанияTemperature cycling
Количество страниц: 7 Статус: Заменен
IEC/PAS 62181(2000)
Испытание нарушения срабатывания интегральных схем (IC)IC latch-up test
Количество страниц: 21 Статус: Заменен
IEC/PAS 62184(2000)
Метод испытания целостности выводаLead intergrity test method
Количество страниц: 18 Статус: Заменен
IEC/PAS 62185(2000)
Метод испытания на тепловой ударThermal shock test method
Количество страниц: 9 Статус: Заменен
IEC/PAS 62186(2000)
Метод испытания на механический ударMechanical shock test method
Количество страниц: 5 Статус: Заменен
IEC/PAS 62187(2000)
Метод испытания на вибрацию переменной частотыVariable frequency vibration test method
Количество страниц: 5 Статус: Заменен
IEC/PAS 62189(2000)
Влияние смещения в течение срока службы полупроводникового прибораBias Life
Количество страниц: 8 Статус: Заменен
IEC/PAS 62202(2000)
Механизмы и модели отказа для кремниевых полупроводниковых приборовFailure mechanisms and models for silicon semiconductor devices
Количество страниц: 38 Статус: Отменен
IEC/PAS 62203(2000)
Испытание электрическое со степенью интеграции, соответствующей целой полупроводниковой пластине. Руководство по стандартным размерам и чертежам для контактной поверхности зондаGuide for the standard probe pad sizes and layouts for water-level electrical testing
Количество страниц: 9 Статус: Отменен
найдено документов: 21833 страниц: 1092