Каталог МЭК — публикации Международной электротехнической комиссии - IEC
найдено документов: 22663 страниц: 1134
IEC 60146-1-1(2024)/Cor.1(2025)
Преобразователи полупроводниковые. Общие требования и преобразователи с линейной коммутацией. Часть 1-1. Спецификация на основные требования. Поправка 1Semiconductor converters - General requirements and line commutated converters - Part 1-1: Specification of basic requirements. Corrigendum 1
Количество страниц: 1 Статус: Действует
IEC 60146-2(1999)
Преобразователи полупроводниковые. Часть 2. Полупроводниковые преобразователи с внутренней коммутацией, включая прямой преобразователь постоянного токаSemiconductor converters - Part 2: Self-commutated semiconductor converters including direct d.c. converters
Количество страниц: 94 Статус: Действует
IEC 60146-3(1977)
Преобразователи полупроводниковые. Часть 3: Полупроводниковые преобразователи постоянного тока с непосредственным преобразованием (преобразователи постоянного тока с прерывателями)Semiconductor convertors - Part 3: Semiconductor direct d.c. convertors (d.c. chopper convertors)
Количество страниц: 41 Статус: Заменен
IEC 60146-4(1986)
Преобразователи полупроводниковые. Часть 4: Методы нормирования рабочих характеристик и требования к испытаниям систем бесперебойного питанияSemiconductor convertors - Part 4: Method of specifying the performance and test requirements of uninterruptible power systems
Количество страниц: 55 Статус: Заменен
IEC 60147-0(1966)
Основные максимально допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 0. Общие положения и терминологияEssential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 0: General and terminology
Количество страниц: 57 Статус: Заменен
IEC 60147-1(1972)
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений.Часть 1.Основные предельно допустимые величины параметров и характеристикиEssential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 1 : Essential ratings and characteristics
Количество страниц: 63 Статус: Заменен
IEC 60147-2(1963)
Основные максимально допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 2. Общие принципы измеренийEssential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 2 : General principles of measuring methods
Количество страниц: 55 Статус: Заменен
IEC 60147-3(1970)
Основные предельнодопустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений часть 3. Эталонные методы измеренийEssential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 3 : Reference methods of measurement
Количество страниц: 29 Статус: Заменен
IEC 60147-4(1976)
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть Ч. Приемка и надежностьEssential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 4 : Acceptance and reliability
Количество страниц: 39 Статус: Заменен
IEC 60147-0B(1969)
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 0. Общие положения и терминология. Второе дополнение к публикации 147-0-66Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 0: General and terminolgy
Количество страниц: 27 Статус: Заменен
IEC 60147-0C(1973)
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 0. Общие положения и терминология. Третье дополнение к публикации 1Ч7-0-66Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 0: General and terminology
Количество страниц: 39 Статус: Заменен
IEC 60147-0D(1974)
Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods.
Количество страниц: 51 Статус: Заменен
IEC 60147-0E(1979)
Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods.
Количество страниц: 43 Статус: Заменен
IEC 60147-0F(1982)
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 0. Общие положения и терминология. Шестое дополнение к публикации 147-0-66Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods.
Количество страниц: 45 Статус: Заменен
найдено документов: 22663 страниц: 1134