панель навигации
  • 8 800 101-92-72 единый контакт-центр
  • Главная
  • Контакты
  • En
  • 中文
ФГБУ «Институт стандартизации»
Подписка
Подписка




Все новости и публикации в области технического регулирования и стандартизации доступны при подписке на:
Чтобы отказаться от подписки перейдите по ссылке
Знак НСС Версия для слабовидящих
панель навигации
О нас
  • О нас

    • Миссия, видение, ценности
    • Новости
    • История
    • Руководство
    • Уставные документы
    • Структура
    • Противодействие коррупции
    • Информационно-справочные материалы
    • Работа в ФГБУ «Институт стандартизации»
    • Полезные ссылки
    • Охрана труда
    • Политика обработки персональных данных
  • Основные задачи

    • Официальное опубликование, издание и распространение документов по стандартизации
    • Федеральный информационный фонд стандартов
    • Федеральный информационный фонд технических регламентов и стандартов
    • Общероссийские классификаторы. Код организации-разработчика конструкторской документации
    • Взаимодействие с международными, региональными и национальными организациями по стандартизации
    • Стандартизация оборонной продукции
  • Направления деятельности

    • Разработка и сопровождение автоматизированных информационных систем
    • Редактирование и нормоконтроль проектов стандартов и иных нормативных документов в области стандартизации
    • Научная и образовательная деятельность
    • Автоматизированный банк данных «Продукция России»
    • Закупочная деятельность
    • Прейскурант
    • Национальная система сертификации
    • Подтверждение соответствия
    • Центр коллективного пользования «Экосистема стандартизации»
Ресурсы
  • Нормативное и правовое обеспечение

    • Правовые акты, определяющие деятельность организации
    • Типовые формы приказов национальной системы стандартизации
    • Основополагающие документы национальной и межгосударственной систем стандартизации
    • Разъяснения по вопросам распространения документов по стандартизации
  • Информационно-издательская продукция

    • Технические регламенты РФ
    • Нормативные документы национальный системы стандартизации
    • Стандарты Республики Беларусь
    • Стандарты Республики Казахстан
    • Международные стандарты
    • Национальные стандарты зарубежных стран
    • Нормативные и технические документы
    • Информационная продукция
    • Терминологические словари
    • Реестр добровольной регистрации стандартов организации
    • Указатели, сборники и каталоги стандартов
    • Издательская продукция
    • Журналы
  • Информационные центры

    • Российский информационный центр по стандартизации, сертификации и преодолению технических барьеров в торговле - РИЦ ВТО (ТБТ/СФС)
    • Официальный российский информационно-аналитический портал «Стандартизация в Китае»
Услуги
  • Техническое регулирование и стандартизация

    • Предоставление документов по стандартизации
    • Проведение терминологической экспертизы стандартов
    • Выполнение переводов национальных и международных стандартов
    • Абонементное обслуживание
    • Экспертные заключения
  • Классификация и каталогизация

    • Общероссийские классификаторы технико-экономической и социальной информации
    • Назначение четырехзначных буквенных кодов организациям-разработчикам конструкторских документов
    • Регистрация каталожных листов продукции
  • Оценка соответствия

    • Испытания
    • Сертификация и декларирование продукции
Обучение
  • Обучение

    • График научно-практических семинаров 2025
    • Приказ №188 от 21.11.2024 об утверждении календарного графика
    • График научно-практических семинаров 2024
    • Приказ №102 от 05.07.2024 об утверждении календарного графика
    • Контакты по вопросам образовательных мероприятий
    • Аспирантура
    • Научная и образовательная деятельность
Заключения
  • Экспертные заключения

    • Выдача заключений ФГБУ «Институт стандартизации»
    • Оформление заключения для таможенных органов
    • Оформление заключения для контрольно-надзорных органов
    • Прейскурант
    Сертификация и испытания
      Пресс-центр
      • Пресс-центр

        • Пресс-служба
        • Информационная картина в области стандартизации
        • Дайджест по стандартизации и техническому регулированию
        • СМИ о стандартизации
        • Заявка на подписку
      Контакты
        Обратная связь
          1. Главная
          2. О нас
          3. Основные задачи
          4. Федеральный информационный фонд стандартов
          5. Каталоги стандартов, общероссийские классификаторы, терминологические словари

          Каталог МЭК — публикации Международной электротехнической комиссии - IEC

          Я ищу:

          найдено документов: 22663 страниц: 1134

          IEC 60147-1F(1973)

          Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 1. Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики. Шестое дополнение к публикации 147-1-72
          Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 1 : Essential ratings and characteristics.
          Количество страниц: 31 Статус: Заменен 

          IEC 60147-1G(1975)

          Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 1. Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики. Шестое дополнение к публикации 147-1-72
          Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 1 : Essential ratings and characteristics.
          Количество страниц: 23 Статус: Заменен 

          IEC 60147-1H(1981)

          Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 1. Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики. Восьмое дополнение к публикации 147-1-72
          Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 1 : Essential ratings and characteristics.
          Количество страниц: 51 Статус: Заменен 

          IEC 60147-1J(1981)

          Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 1. Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики. Девятое дополнение к публикации 147-1-72
          Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 1 : Essential ratings and characteristics.
          Количество страниц: 31 Статус: Заменен 

          IEC 60147-1K(1981)


          Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 1: Essential ratings and characteristics. Tenth supplement. Chapter IX: Optoelectronic devices
          Количество страниц: 31 Статус: Заменен 

          IEC 60147-2B(1970)

          Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 2: общие принципы измерений. Второе дополнение к публикации 1Ч7-2-63
          Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 2 : General principles of measuring methods.
          Количество страниц: 53 Статус: Заменен 

          IEC 60147-2C(1970)

          Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 2: общие принципы методов измерений. Десятое дополнение к публикации 147-2-63
          Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 2 : General principles of measuring methods.
          Количество страниц: 73 Статус: Заменен 

          IEC 60147-2F(1974)

          Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 2. Общие принципы измерений. Шестое дополнение к публикации 1Ч7-2-63
          Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 2 : General principles of measuring methods.
          Количество страниц: 72 Статус: Заменен 

          IEC 60147-2G(1975)


          Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 2 : General principles of measuring methods. Seventh supplement: Chapter IV: Field-effect transistors
          Количество страниц: 41 Статус: Заменен 

          IEC 60147-2J(1978)


          Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 2 : General principles of measuring methods. Ninth supplement: Chapter VII: Analogue integrated circuits
          Количество страниц: 115 Статус: Заменен 

          IEC 60147-2K(1978)


          Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 2 : General principles of measuring methods.
          Количество страниц: 55 Статус: Заменен 

          IEC 60147-2L(1979)


          Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 2 : General principles of measuring methods. Eleventh supplement: Chapter VI: Digital integrated circuits
          Количество страниц: 67 Статус: Заменен 

          IEC 60147-2M(1980)


          Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 2 : General principles of measuring methods.
          Количество страниц: 73 Статус: Заменен 

          IEC 60147-3A(1973)

          Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 3. Эталонные методы измерений. Первое дополнение к публикации 147-3-70
          Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 3 : Reference methods of measurement.
          Количество страниц: 21 Статус: Заменен 

          IEC 60147-5A(1981)


          Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 5: Mechanical and climatic test methods. First supplement
          Количество страниц: 41 Статус: Заменен 

          IEC 60148(1969)

          Буквенные обозначения для полупроводниковых приборов и интегральных микросхем
          Letter symbols for semiconductor devices and integrated microcircuits
          Количество страниц: 67 Статус: Заменен 

          IEC 60149-1(1963)

          Панели для электровакуумных приборов. Часть 1: Общие требования и методы испытаний
          Sockets and accessories for electronic plug-in devices. Part 1 : General requirements and methods of test
          Количество страниц: 52 Статус: Отменен 

          IEC 60149-1(1963)/Amd.1(1970)


          Sockets and accessories for electronic plug-in devices. Part 1 : General requirements and methods of test
          Количество страниц: 9 Статус: Отменен 

          IEC 60149-1(1963)/Amd.2(1972)


          Sockets and accessories for electronic plug-in devices. Part 1 : General requirements and methods of test
          Количество страниц: 3 Статус: Отменен 

          IEC 60149-2(1965)

          Панели для электровакуумных приборов. Часть 2: Технические условия в листах на панели и размеры монтажных шаблонов и приспособлений для выпрямления штырьков
          Sockets and accessories for electronic plug-in devices. Part 2 : Specification sheets for sockets and dimensions of wiring jigs and pin straighteners
          Количество страниц: 47 Статус: Отменен 

          найдено документов: 22663 страниц: 1134


          • « Первая
          • ‹ предыдущая
          • ...
          • 121
          • 122
          • 123
          • 124
          • 125
          • 126
          • 127
          • 128
          • 129
          • 130
          • 131
          • 132
          • 133
          • 134
          • 135
          • 136
          • 137
          • 138
          • 139
          • 140
          • ...
          • следующая ›
          • последняя »
          • Каталоги стандартов, общероссийские классификаторы, терминологические словари
            • Каталог "ГОСТ"
            • Каталог "Правила, Рекомендации"
            • Каталог "Своды Правил"
            • Каталог СТО и ТУ
            • Каталог документов международных организаций по стандартизации "ИСО"
            • Каталог документов международной электротехнической комиссии "МЭК"
            • Каталог "DIN"
            • Каталог "Bеликобритания"
            • Каталог "Франция"
            • Каталог "Австрия"
            • Общероссийские классификаторы
            • Терминологические словари
            • Перечень стандартов, применяемых в соответствии с приказом Росстандарта от 21.06.2021 № 1061
            • Медицинские стандарты
          нижний колонтитул
          Включение сведений в единый реестр зарегистрированных систем добровольной сертификации
          Предоставление сведений из единого реестра зарегистрированных систем добровольной сертификации
          Получение сведений, содержащихся в Федеральном информационном фонде по обеспечению единства измерений
          Получение информации о соблюдении требований технических регламентов
          Представлений пользователям информации по документам федерального фонда и их копий
          Отнесение технического средства к средствам измерений
          Двойные стандарты? Нарушено единство измерений?
          Расскажите нам о проблемах
          Госуслуги
          Госуслуги
          Решаем вместе
          Росстандарт
          • 8 800 101 92 72
            Единый контакт-центр
          • vk

           

          © ФГБУ «Институт стандартизации», 2025

          ФГБУ «Институт стандартизации» обрабатывает cookies исключительно с целью персонализации сервисов, и для повышения удобства пользования сайтом. Собранная информация третьим лицам не передается. Вы можете запретить обработку cookies в настройках Вашего браузера. Используя информационные ресурсы ФГБУ “Институт стандартизации” в сети Интернет, Вы соглашаетесь с использованием файлов cookies и политикой обработки персональных данных. Чтобы ознакомиться с политикой обработки персональных данных и об использовании файлов cookie, нажмите здесь.