панель навигации
  • 8 800 101-92-72 единый контакт-центр
  • Главная
  • Контакты
  • En
  • 中文
ФГБУ «Институт стандартизации»
Подписка
Подписка




Все новости и публикации в области технического регулирования и стандартизации доступны при подписке на:
Чтобы отказаться от подписки перейдите по ссылке
Знак НСС Версия для слабовидящих
панель навигации
О нас
  • О нас

    • Миссия, видение, ценности
    • Новости
    • История
    • Руководство
    • Уставные документы
    • Структура
    • Противодействие коррупции
    • Информационно-справочные материалы
    • Работа в ФГБУ «Институт стандартизации»
    • Полезные ссылки
    • Охрана труда
    • Политика обработки персональных данных
  • Основные задачи

    • Официальное опубликование, издание и распространение документов по стандартизации
    • Федеральный информационный фонд стандартов
    • Федеральный информационный фонд технических регламентов и стандартов
    • Общероссийские классификаторы. Код организации-разработчика конструкторской документации
    • Взаимодействие с международными, региональными и национальными организациями по стандартизации
    • Стандартизация оборонной продукции
  • Направления деятельности

    • Разработка и сопровождение автоматизированных информационных систем
    • Редактирование и нормоконтроль проектов стандартов и иных нормативных документов в области стандартизации
    • Научная и образовательная деятельность
    • Автоматизированный банк данных «Продукция России»
    • Закупочная деятельность
    • Прейскурант
    • Национальная система сертификации
    • Подтверждение соответствия
    • Центр коллективного пользования «Экосистема стандартизации»
Ресурсы
  • Нормативное и правовое обеспечение

    • Правовые акты, определяющие деятельность организации
    • Типовые формы приказов национальной системы стандартизации
    • Основополагающие документы национальной и межгосударственной систем стандартизации
    • Разъяснения по вопросам распространения документов по стандартизации
  • Информационно-издательская продукция

    • Технические регламенты РФ
    • Нормативные документы национальный системы стандартизации
    • Стандарты Республики Беларусь
    • Стандарты Республики Казахстан
    • Международные стандарты
    • Национальные стандарты зарубежных стран
    • Нормативные и технические документы
    • Информационная продукция
    • Терминологические словари
    • Реестр добровольной регистрации стандартов организации
    • Указатели, сборники и каталоги стандартов
    • Издательская продукция
    • Журналы
  • Информационные центры

    • Российский информационный центр по стандартизации, сертификации и преодолению технических барьеров в торговле - РИЦ ВТО (ТБТ/СФС)
    • Официальный российский информационно-аналитический портал «Стандартизация в Китае»
Услуги
  • Техническое регулирование и стандартизация

    • Предоставление документов по стандартизации
    • Проведение терминологической экспертизы стандартов
    • Выполнение переводов национальных и международных стандартов
    • Абонементное обслуживание
    • Экспертные заключения
  • Классификация и каталогизация

    • Общероссийские классификаторы технико-экономической и социальной информации
    • Назначение четырехзначных буквенных кодов организациям-разработчикам конструкторских документов
    • Регистрация каталожных листов продукции
  • Оценка соответствия

    • Испытания
    • Сертификация и декларирование продукции
    • Сертификация (аттестация) персонала
Обучение
  • Обучение

    • График научно-практических семинаров 2025
    • Приказ №188 от 21.11.2024 об утверждении календарного графика
    • График научно-практических семинаров 2024
    • Приказ №102 от 05.07.2024 об утверждении календарного графика
    • Контакты по вопросам образовательных мероприятий
    • Аспирантура
    • Научная и образовательная деятельность
Заключения
  • Экспертные заключения

    • Выдача заключений ФГБУ «Институт стандартизации»
    • Оформление заключения для таможенных органов
    • Оформление заключения для контрольно-надзорных органов
    • Прейскурант
    Сертификация и испытания
      Пресс-центр
      • Пресс-центр

        • Пресс-служба
        • Информационная картина в области стандартизации
        • Дайджест по стандартизации и техническому регулированию
        • СМИ о стандартизации
        • Заявка на подписку
      Контакты
        Обратная связь
          1. Главная
          2. О нас
          3. Основные задачи
          4. Федеральный информационный фонд стандартов
          5. Каталоги стандартов, общероссийские классификаторы, терминологические словари

          Каталог МЭК — публикации Международной электротехнической комиссии - IEC

          Я ищу:

          найдено документов: 22798 страниц: 1140

          IEC 60191-5(1997)

          Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 5. Рекомендации для корпусов интегральных схем с использованием автоматического монтажа кристаллов на ленточном носителе
          Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 5: Recommendations applying to integrated circuit packages using tape automated bonding (TAB)
          Количество страниц: 74 Статус: Действует 

          IEC 60191-6(1990)

          Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 6: Общие правила составления габаритных чертежей для монтажа корпусов полупроводниковых приборов
          Mechanical standardization of semiconductor devices; part 6: general rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages
          Количество страниц: 42 Статус: Заменен 

          IEC 60191-6(1990)/Amd.1(1999)

          Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 6. Общие правила составления габаритных чертежей для монтажа корпусов полупроводниковых приборов. Изменение 1
          Mechanical standardization of semiconductor devices; part 6: general rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages. Amendment 1
          Количество страниц: 20 Статус: Заменен 

          IEC 60191-6(2004)

          Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 6-4. Общие правила для составления габаритных чертежей для поверхностного монтажа корпусов полупроводниковых приборов
          Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages
          Количество страниц: 42 Статус: Заменен 

          IEC 60191-6(2009)

          Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 6. Общие правила составления габаритных чертежей для монтажа корпусов полупроводниковых приборов
          Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages
          Количество страниц: 80 Статус: Действует 

          IEC 60191-6-1(2001)

          Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 6-1. Общие правила составления габаритных чертежей для монтажа корпусов полупроводниковых приборов. Руководство по проектированию выводов с формой типа "крыла чайки"
          Mechanical standardization of semiconductor devices. Part 6-1. General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages. Design guide for gull-wing lead terminals
          Количество страниц: 10 Статус: Действует 

          IEC 60191-6-2(2001)

          Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 6-2. Общие правила составления габаритных чертежей для поверхностного монтажа корпусов полупроводниковых приборов.Руководство по проектированию терминальных корпусов в виде шариков и колонн с шагом 1,50 мм, 1,27 мм и 1,00 мм
          Mechanical standardization of semiconductor devices. Part 6-2: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages. Design guide for 1,50 mm, 1,27 mm and 1,00 mm pitch ball and column terminal packages
          Количество страниц: 14 Статус: Действует 

          IEC 60191-6-2(2001)

          Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 6-2. Общие правила составления габаритных чертежей для поверхностного монтажа корпусов полупроводниковых приборов.Руководство по проектированию терминальных корпусов в виде шариков и колонн с шагом 1,50 мм, 1,27 мм и 1,00 мм
          Mechanical standardization of semiconductor devices. Part 6-2: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages. Design guide for 1,50 mm, 1,27 mm and 1,00 mm pitch ball and column terminal packages
          Количество страниц: 26 Статус: Действует 

          IEC 60191-6-2(2001)/Cor.1(2002)

          Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 6-2. Общие правила составления габаритных чертежей для поверхностного монтажа корпусов полупроводниковых приборов.Руководство по проектированию терминальных корпусов в виде шариков и колонн с шагом 1,50 мм, 1,27 мм и 1,00 мм. Поправка 1
          Mechanical standardization of semiconductor devices. Part 6-2: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages. Design guide for 1,50 mm, 1,27 mm and 1,00 mm pitch ball and column terminal packages. Corrigendum 1
          Количество страниц: 4 Статус: Действует 

          IEC 60191-6-3(2000)

          Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 6-3. Общие правила составления габаритных чертежей для поверхностного монтажа корпусов полупроводниковых приборов. Методы измерения размеров плоских корпусов с четырьмя копланарными выводами
          Mechanical standardization of semiconductor devices. Part 6-3. General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages. Measuring methods for package dimensions of quad flat packs (QFP)
          Количество страниц: 20 Статус: Действует 

          IEC 60191-6-3(2000)

          Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 6-3. Общие правила составления габаритных чертежей для поверхностного монтажа корпусов полупроводниковых приборов. Методы измерения размеров плоских корпусов с четырьмя копланарными выводами
          Mechanical standardization of semiconductor devices. Part 6-3. General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages. Measuring methods for package dimensions of quad flat packs (QFP)
          Количество страниц: 34 Статус: Действует 

          IEC 60191-6-4(2003)

          Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 6-4. Общие правила для составления габаритных чертежей для наружного монтажа корпусов полупроводниковых приборов. Методы измерения размеров шариковых матричных корпусов (BGA)
          Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-4: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Measuring methods for package dimensions of ball grid array (BGA)
          Количество страниц: 20 Статус: Действует 

          IEC 60191-6-4(2003)

          Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 6-4. Общие правила для составления габаритных чертежей для наружного монтажа корпусов полупроводниковых приборов. Методы измерения размеров шариковых матричных корпусов (BGA)
          Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-4: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Measuring methods for package dimensions of ball grid array (BGA)
          Количество страниц: 36 Статус: Действует 

          IEC 60191-6-5(2001)

          Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 6-5. Общие правила для составления габаритных чертежей для монтажа корпусов полупроводниковых приборов. Руководство по проектированию шариковых матричных корпусов с мелким шагом контактов решетки (FBGA)
          Mechanical standartization of semiconductor devices. Part 6-5. General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages. Desing guide for fine-pitch ball grid array (FBGA)
          Количество страниц: 14 Статус: Действует 

          IEC 60191-6-6(2001)

          Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 6-6. Общие правила составления габаритных чертежей для монтажа корпусов полупроводниковых приборов. Руководство по проектированию устройств с мелким шагом контактов решетки матрицы (FLGA)
          Mechanical standartisation of semiconductor devices. Part 6-6. General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages. Design guide for fine pitch land grid array (FLGA)
          Количество страниц: 16 Статус: Действует 

          IEC 60191-6-6(2001)

          Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 6-6. Общие правила составления габаритных чертежей для монтажа корпусов полупроводниковых приборов. Руководство по проектированию устройств с мелким шагом контактов решетки матрицы (FLGA)
          Mechanical standartisation of semiconductor devices. Part 6-6. General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages. Design guide for fine pitch land grid array (FLGA)
          Количество страниц: 25 Статус: Действует 

          IEC 60191-6-8(2001)

          Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 6-8. Общие правила для составления габаритных чертежей для монтажа корпусов полупроводниковых приборов. Руководство по проектированию керамических плоских корпусов с четырьмя капланарными выводами и с герметизацией стеклом (G-QFP)
          Mechanical standardization of semiconductor devices. Part 6-8. General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages. Design guide for glass sealed ceramic quad flatpack (G-QFP)
          Количество страниц: 14 Статус: Действует 

          IEC 60191-6-8(2001)

          Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 6-8. Общие правила для составления габаритных чертежей для монтажа корпусов полупроводниковых приборов. Руководство по проектированию керамических плоских корпусов с четырьмя капланарными выводами и с герметизацией стеклом (G-QFP)
          Mechanical standardization of semiconductor devices. Part 6-8. General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages. Design guide for glass sealed ceramic quad flatpack (G-QFP)
          Количество страниц: 22 Статус: Действует 

          IEC 60191-6-10(2003)

          Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 6-10. Общие правила для составления габаритных чертежей для наружного монтажа корпусов полупроводниковых приборов. Размеры P-VSON
          Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-10: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Dimensions of P-VSON
          Количество страниц: 16 Статус: Действует 

          IEC 60191-6-10(2003)

          Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 6-10. Общие правила для составления габаритных чертежей для наружного монтажа корпусов полупроводниковых приборов. Размеры P-VSON
          Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-10: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Dimensions of P-VSON
          Количество страниц: 28 Статус: Действует 

          найдено документов: 22798 страниц: 1140


          • « Первая
          • ‹ предыдущая
          • ...
          • 121
          • 122
          • 123
          • 124
          • 125
          • 126
          • 127
          • 128
          • 129
          • 130
          • 131
          • 132
          • 133
          • 134
          • 135
          • 136
          • 137
          • 138
          • 139
          • 140
          • ...
          • следующая ›
          • последняя »
          • Каталоги стандартов, общероссийские классификаторы, терминологические словари
            • Каталог "ГОСТ"
            • Каталог "Правила, Рекомендации"
            • Каталог "Своды Правил"
            • Каталог СТО и ТУ
            • Каталог документов международных организаций по стандартизации "ИСО"
            • Каталог документов международной электротехнической комиссии "МЭК"
            • Каталог "DIN"
            • Каталог "Bеликобритания"
            • Каталог "Франция"
            • Каталог "Австрия"
            • Общероссийские классификаторы
            • Терминологические словари
            • Перечень стандартов, применяемых в соответствии с приказом Росстандарта от 21.06.2021 № 1061
            • Медицинские стандарты
          нижний колонтитул
          Включение сведений в единый реестр зарегистрированных систем добровольной сертификации
          Предоставление сведений из единого реестра зарегистрированных систем добровольной сертификации
          Получение сведений, содержащихся в Федеральном информационном фонде по обеспечению единства измерений
          Получение информации о соблюдении требований технических регламентов
          Представлений пользователям информации по документам федерального фонда и их копий
          Отнесение технического средства к средствам измерений
          Двойные стандарты? Нарушено единство измерений?
          Расскажите нам о проблемах
          Госуслуги
          Госуслуги
          Решаем вместе
          Росстандарт
          • 8 800 101 92 72
            Единый контакт-центр
          • vk

           

          © ФГБУ «Институт стандартизации», 2025

          ФГБУ «Институт стандартизации» обрабатывает cookies исключительно с целью персонализации сервисов, и для повышения удобства пользования сайтом. Собранная информация третьим лицам не передается. Вы можете запретить обработку cookies в настройках Вашего браузера. Используя информационные ресурсы ФГБУ “Институт стандартизации” в сети Интернет, Вы соглашаетесь с использованием файлов cookies и политикой обработки персональных данных. Чтобы ознакомиться с политикой обработки персональных данных и об использовании файлов cookie, нажмите здесь.